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二路低本底ab测量系统 中核控制 低本底ab测量系统

发布日期 :2022-10-11 14:34发布IP:123.58.44.124编号:10577201
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特殊无损检测仪器
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低本底αβ测量仪组成

中核控制系统工程有限公司生产、销售低本底,以下信息由中核控制系统工程有限公司为您提供。

双路低本底αβ测量仪的电子线路部分和铅室为一体化结构,低本底ab测量系统,电子线路部分在机柜上部,铅室在机柜下部,整体机柜规格(长600mm×宽600mm×高1250mm)。一体机柜设计,使系统高度集成,二路低本底ab测量系统价格,连接,占地空间小。

主探测器

仪器的主探头是由自研自产的低本底双闪探测器和低噪声光高灵敏度的电倍增管组成。闪烁体面积:15.896cm2(Φ45mm)。低本底双闪探测器对αβ粒子探测效率较高,本底低。CR105型光电倍增管由仪器高压电源提供正高压。样品盘是由 0.5mm不锈钢材料做成碟形盘,深2mm,直径45mm。样品盘可进行固体样品测量。

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低本底α、β测量仪的技术参数介绍

技术参数

1.对239Pu α标准源的2π探测效率≥85%时,本底≤0.08个计数cm-2h-1,典型值为 0.02个计数cm-2h-1。

2.对于90Sr-90Y β标准源2π探测效率≥40%时,本底≤0.08个计数cm-2min-1,典 型值为0.03个计数cm-2min-1。

3.混道性能:α进入β道的计数效率≤1%,β进入α道的计数效率为零。

4.稳定性:8h后,α效率变化在±≤5%;β效率变化在±≤10%范围内。

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低本底大面积 α 屏栅电离室

2.1 屏栅电离室的结构和主要参数

为防止样品制备过程中丢失核素,也为省去通常比较费时的化学分离,把待测介质薄薄地铺成大面积薄样是很理想的 α 能谱分析方法。

2.2 大面积源样品的制备

为利用屏栅电离室进行 α 能谱分析,二路低本底ab测量系统多少钱,制备出符合要求的大面积均匀薄源是十分关键的。假若样品本身不够薄 和不均匀,那探测器本身的能量分辨本领再高也是没有用的,因为样品自吸收会产生很大的 α 能谱的“尾巴 ”,从而使对 α 能谱的分辨本领遭到严重破坏。




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